IEC 60747-17 Challenge!

IEC 60747-17 Challenge!

High-Voltage, Time-Dependent Dielectric Breakdown System for the IEC 60747-17 Standard

“Grazie alla piattaforma RIO fornita con tecnologia FPGA e supportata dall’ambiente di sviluppo LabVIEW, abbiamo sviluppato un sistema con 4 livelli funzionali.”

– Flavio Floriani, INTEK S.p.A., Responsabile di settore

La sfida:
INTEK aveva bisogno di inventare e costruire un sistema di misurazione completamente automatico in grado di testare fino a 50 accoppiatori magnetici simultaneamente mentre sono sottoposti ad alta tensione (fino a 8 kV rms) e posti in un forno a 150 ° C. Il sistema aveva anche bisogno di registrare il tempo medio di fail e monitorare le sovratensioni generate quando un dispositivo si rompe.

La soluzione:
INTEK ha utilizzato la piattaforma CompactRIO con tecnologia FPGA e LabVIEW per sviluppare un sistema con quattro livelli funzionali. Il sistema combina la potenza dell’hardware NI con la flessibilità di LabVIEW.

Leggi l’articolo completo qui!

Devi effettuare prove o vuoi più informazioni?
Contattaci!

No Comments

Add your comment